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          McCrometer推出Wafer-Cone流量計
          來源:作者:本站

          生產現場、過程控制與工廠工程師人員發現McCrometer公司推出高度靈活的Wafer-Cone流量計,該產品具有模塊化設計功能特點,使其很容易且經濟的根據動態流體狀況來替換相應流量計元件。

          這種獨特的Wafer-Cone流量計依靠具有內置流體狀況監測的差分壓力技術,可用來獲得±0.5%的精度,且重復測試結果達到±0.1%的誤差。該款產品設計上適用于液體或氣體的監測,且監測占空間尺寸為0.5到6英寸之間,這使其對于包括從天然氣氣井、小型過程生產線到許多工業基礎設施的各種領域來說是完美。

          通過采用自調整流動狀況,該Wafer-Cone流量計真正的節省空間。它消除了其它類似DP技術測試中需要大量流量直管的需要,比如銳孔板和文丘里管等。這能安裝到管道系統的幾乎任何部位,且很容易適用于現有的管道布置改造,并為現場安裝帶來很好的靈活性,進而節省成本。


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